10.3969/j.issn.1672-9870.2011.02.018
基于A1N掩蔽膜的半导体激光器温度场分布研究
运用ANSYS软件建立了808nm高功率半导体激光器内部热源分析模型,并对其进行瞬态温度及稳态温度模拟,讨论了SiO2及A1N材料掩蔽膜对器件内部温度场分布的影响.结果表明,有源区的平衡温度由器件的散热特性决定,用A1N材料代替SiO2材料制备掩蔽膜,能降低器件内部温度,更好的满足半导体激光器高效率工作的需要.
半导体激光器、热分布、ANSYS软件、掩蔽膜
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TN248.4(光电子技术、激光技术)
2011-12-06(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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