数字像面全息双曝光法测量物体位移的研究

摘要：

采用数字像面全息图与双曝光干涉法相结合测量物体位移,有效地增强了物光强度.提高了干涉图像的对比度,得到了清晰的干涉图像;并将面阵CCD与电寻址液晶EALCD相结合用于全息再现,成功地避免了传统的全息记录材料显影、定影、全息图复位过程以及材料非线性记录等缺点,取得了较好的实验效果.

关键词：像面全息、双曝光法、物体位移、EALCD

所属期刊栏目：32

分类号：TN26(光电子技术、激光技术)

资助基金：总装备部预研项目9140A17060306BQ0303

在线出版日期：2009-05-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：25-27