10.3969/j.issn.1672-9870.2004.03.038
硅掺杂半导体立方氮化硼单晶的制备
本文采用扩散的方法实现了立方氮化硼的硅掺杂,分析了扩散温度、时间对其电阻的影响.实验结果表明:在扩散的初始时段,立方氮化硼的电阻下降很快;而随着掺杂时间的增加,电阻变化趋缓,说明掺杂浓度随时间增加将出现饱和现象.另外,当扩散温度增加时,立方氮化硼的电阻也随之下降,即较高的温度有利于获得较高的掺杂浓度.
扩散温度、扩散时间、立方氮化硼
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TB43(工业通用技术与设备)
国家自然科学基金69576012
2004-11-18(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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