抗事故包装箱密封结构性能研究
目的 为抗事故包装箱密封结构设计提供依据.方法 介绍2种抗事故包装箱密封结构的设计,分析经历事故场景后2种密封结构的密封面变形和O形密封圈压缩率变化情况,开展密封性能试验.结果 端面密封结构经历事故场景后,O形密封圈压缩率不小于15%时,密封结构检测漏率为环境本底漏率,压缩率降至10%时,漏率明显增加,但仍能达到1μPa·m3/s量级,压缩率降至5%时,密封结构彻底失效.柱面密封结构的联接螺栓即使经历事故场景后全部失效,密封结构的密封性能也基本保持不变,检测漏率为环境本底漏率.结论 柱面密封结构抵御事故风险的能力更强.
抗事故包装箱、端面密封、柱面密封、密封性能、漏率
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TB485.3(工业通用技术与设备)
2017-12-15(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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前插1,1-5