10.3969/j.issn.1004-244X.2004.02.017
活动拨柄开裂的分析研究
对活动拨柄开裂原因进行了断口分析、能谱分析、化学成分分析、金相检验和硬度测定.结果表明:活动拨柄的断裂主要是沿晶断裂,引起沿晶断裂的原因主要是活动拨柄局部高频热处理时产生一类回火脆,致使材料局部出现脆化,在后续的磷化处理过程中发生脆断.提出了预防开裂的防范措施及改进建议.
活动拨柄、沿晶断裂、回火脆、磷化处理、脆断
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TG115(金属学与热处理)
2004-08-06(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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