受激发射损耗显微超分辨成像技术在免疫突触中的研究进展

摘要：

由于光学衍射的限制,传统光学显微镜只能看到免疫突触(immunological synapse,IS)(>200 nm)的轮廓,因此在观察嵌合抗原受体(chimeric antigen receptor,CAR)修饰的自然杀伤(native killer,NK)细胞靶向杀伤肿瘤细胞时,NK细胞的IS形成过程中会丢掉很多信息.受激发射损耗(stimulated emission depletion,STED)显微镜的出现为IS的研究提供了有力工具.本文概述了STED超分辨成像技术的基本原理,分析了成像过程中的技术难点,介绍了在IS领域中与STED成像技术结合使用的荧光探针、生物芯片的研究新进展,探讨并展望了STED超分辨显微技术在IS研究领域的意义和未来发展方向.

关键词：自然杀伤细胞、免疫突触、受激发射损耗显微镜、荧光探针、生物芯片

所属期刊栏目：38

分类号：R318.04(医用一般科学)

资助基金：北京市教育委员会科技创新服务能力建设-科研水平提高定额-智能制造领域大科研推进计划资助

在线出版日期：2019-11-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：530-534