基于近红外光谱无损快速检测面粉品质的研究

摘要：

提出一种基于近红外光谱技术结合偏最小二乘法对面粉品质进行无损快速检测的方法．配制含滑石粉的面粉样品30个，采集样品在12500～4000cm^-1范围内的近红外漫反射光谱，选择最优的光谱预处理方法和光谱范围，采用偏最小二乘法（PLS）建立定量分析模型．结果表明所建定量分析模型的相关性能比较高，预测相关系数和预测均方根误差均符合要求．研究发现，近红外光谱技术用于快速无损检测面粉掺假是可行的．

关键词：近红外光谱、偏最小二乘法、面粉、滑石粉

所属期刊栏目：29

分类号：TS207.3(食品工业)

在线出版日期：2012-04-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：68-70