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弱磁场激励下基于阵列磁传感器的缺陷检测方法

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研究在弱磁场激励条件下,铁磁性材料试件16MnR在动载荷拉伸实验中的损伤检测问题.基于巨磁阻芯片设计了新型阵列磁传感器,搭建了铁磁构件磁信号检测系统;对不同载荷循环阶段的试件表面磁信号进行了拾取,并利用小波变换有效地抑制了噪声干扰.最后,对降噪后的磁信号进行C扫描成像,实现了弱磁场激励下试件损伤发展过程的磁信号成像显示.该结果可为铁磁性试件疲劳损伤的在位检测提供一种新型检测方法.

弱磁场激励、巨磁阻、阵列传感器、小波分析、缺陷检测

34

TG115.28(金属学与热处理)

2014-07-29(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

460-463,469

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北京理工大学学报

1001-0645

11-2596/T

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2014,34(5)

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