雷达系统级测试的边界扫描方法

摘要：

研究雷达机内自测试BIT(built in test)的实现及雷达系统级测试.依据结构可测性设计方法,采用可编程逻辑器件设计电路板级测试单元,把芯片级边界扫描扩展到雷达系统级测试,并将该方法应用到雷达信号处理机中.给出了板级边界扫描结构和系统级测试的组成结构.雷达信号处理机系统级检测结果表明提出边界扫描测试在系统级应用是可行的.雷达系统级测试的边界扫描方法设计简单,所需硬件少,易于实现,具有在线测试、离线测试以及系统调试等功能,且故障覆盖率高,故障可定位到电路板级和芯片级.

关键词：可测性设计、雷达机内自测试、边界扫描、系统级测试

所属期刊栏目：20

分类号：TN956

资助基金：国家部委预研项目

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：232-235