颅面结构模板分析法的研究与应用

摘要：

X线头影测量技术是研究颅面部生长发育和牙颌畸形机理的重要手段,传统的测量分析方法多限于测量局部的角度和线距值,而颅面结构模板分析法因其形象、直观、整体、快速的反映颅面部各部分结构的比例关系,广泛应用于临床,本文就颅面结构模板分析法的研究与应用进行综述.

机标关键词：颅面部、结构模板、分析法、头影测量技术、研究与应用、牙颌畸形、生长发育、分析方法、部分结构、比例关系、直观、形象、手段、临床、快速、局部、机理

所属期刊栏目：16

分类号：R78;R81

在线出版日期：2008-08-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：177-178