基于结构谱的中厚板表面缺陷识别方法

摘要：

为克服传统纹理分析的缺陷识别结果易受光照变化和氧化铁皮不利影响的缺点,提出了结构谱纹理分析方法,并将其应用于中厚板表面麻点、夹杂、结疤等缺陷的识别.实验结果表明,结构谱方法具有较好的光照不变性,对麻点、夹杂、结疤等缺陷的识别率要高于灰度共生矩阵、Laws纹理能量、傅里叶功率谱等其他纹理分析方法.

关键词：中厚板、表面检测、结构谱、纹理分析

所属期刊栏目：29

分类号：TG3(金属压力加工)

资助基金：国家高技术研究发展计划（863计划）;国家高技术研究发展计划（863计划）

在线出版日期：2007-04-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：342-345