基于随机相关的电子部件二元加速退化可靠性评估

摘要：

针对加速应力下电子部件二元相关退化可靠性分析难题,提出一种基于随机相关的可靠性分析方法.采用考虑个体差异的Wiener过程模型建立边缘退化过程模型,并基于加速因子不变原则建立了模型参数与加速应力的关系;构建了基于Copula函数的随机相关模型,采用两阶段贝叶斯参数估计方法进行参数估计,综合运用散点图、偏差信息准则(DIC)值以及Kendallτ的非参数估计值等方法进行随机相关模型选择,并采用蒙特卡罗仿真方法进行可靠度计算.最后采用实例验证了所提方法有效性,为考虑个体差异的贮存可靠性评估提供了技术支撑.

关键词：可靠性评估、加速退化数据、二元退化、随机相关、电子部件

所属期刊栏目：45

分类号：TB114.3(工程基础科学)

资助基金：国家自然科学基金51605487

在线出版日期：2019-12-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共10页

页码：2237-2246