基于低相干光的光子晶体光纤熔点背向反射测量

摘要：

光子晶体光纤(PCF)与传统单模光纤熔接时斜切熔接可以大大减小熔点处反射,但是仍然存在微弱的残余背向反射,为了精确测量该残余背向反射大小,本文基于低相干光干涉测量原理提出了一种Mach-Zehnder与Michelson混合型干涉仪.基于该干涉仪,对包层直径125 μm实芯光子晶体光纤与传统单模光纤斜8°熔点,以及包层直径100 μm实芯光子晶体光纤与传统单模光纤斜8°熔点处的背向反射进行了测量,得到背向反射率分别为-52.12 dB和-49.35 dB,并获得了熔点的位置信息.该干涉仪为光子晶体光纤斜切熔点残余背向反射的精确定位和测量提供了工具和手段,为熔点质量的改善奠定了基础.

关键词：光子晶体光纤(PCF)、斜切熔接、背向反射、低相干光、干涉测量

所属期刊栏目：43

分类号：TN292.11(光电子技术、激光技术)

在线出版日期：2017-08-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：1300-1305