改进的模拟温补晶振宽温补偿方法

摘要：

当要求模拟温补晶体振荡器(TCXO)在宽温范围内频率温度稳定性优于±1×10-6时,使用传统补偿方法通常一次成功率低.通过对温补精度影响因素的分析,得出温补网络中热敏电阻测试方法和计算模型误差较大.因此,提出一种改进的宽温补偿方法.首先,参考热敏电阻在宽温范围内在线测试,获得实际数据;然后,待使用热敏电阻依据参考热敏电阻测试数据进行比例建模,得到各温度对应电阻值;最后,将建模后的待使用热敏电阻代入温补网络计算程序,采用遗传算法优化计算网络参数.通过与传统方法的对比试验,表明该方法建模的热敏电阻与实际测试值更接近,温补网络计算程序更灵活,温补一次成功率提高到约90％以上.

关键词：晶体振荡器、温度补偿、热敏电阻、遗传算法、建模

所属期刊栏目：41

分类号：TN711(基本电子电路)

在线出版日期：2017-01-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：2250-2255