星载SRAM型FPGA可靠性快速评估技术

摘要：

空间辐射环境严重影响星载SRAM (Static Random Access Memory)型FPGA(Field Programmable Gate Array)的可靠性,提出了星载SRAM型FPGA可靠性快速验证评估方法.在传统故障注入验证的基础上,引入可靠性预评估技术,在逻辑门级分析单粒子翻转对FPGA配置信息位的影响,同时对TMR (Triple Modular Redundancy)冗余方式进行单粒子翻转关键位置评估.然后构成不同敏感级别的故障序列,最后根据应用需求选择不周故障序列进行故障注入从而有效快速评估系统可靠性.该方法与逐位翻转相比,能够在保证故障覆盖率的同时,有效地减少实验时间,提高实验效率.

关键词：星载FPGA、故障注入、单粒子翻转、可靠性评估

所属期刊栏目：39

分类号：TP332.1(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2017-01-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：863-868