微波暗室内双站RCS测量方法的仿真
阐述了在微波暗室内使用紧缩场和平面近场扫描测量双站RCS(Radar Cross Section)的方法,并用天线耦合公式、平面波综合和等效原理将近场变换到远场.分析了采样、有效角域和窗函数对测量性能的影响.半波长的采样可满足测量的要求,欠采样会侵蚀有效角域范围.虑及综合口径的等效投影,完善了有效角域的估计公式.驻相法分析了近远场变换对近场的近似局部依赖性.并且使用窗函数来抑制扫描截断误差,提高测量精度.最后,通过数值算例验证了测量方法和性能分析的有效性.
近场、雷达散射截面、微波暗室
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TN806(无线电设备、电信设备)
2008-11-18(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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