原子氧对O型圈泄漏率的影响

摘要：

使用原子氧效应地面模拟设备对硅橡胶材料O型圈进行了原子氧暴露实验;用测压法进行了O型圈在原子氧暴露前后的泄漏率比对实验,并对实验前后O型圈表面形貌特征作了扫描电镜分析.实验表明:原子氧对O型圈表面有很大的剥蚀效应;O型圈经过原子氧暴露后,质量减少、泄漏率明显增大;暴露时间越长,表面形貌受到的损坏越严重、质量减少量越多,泄漏率也就越大.

关键词：硅橡胶、氧原子、泄漏、O型圈

所属期刊栏目：29

分类号：TB42(工业通用技术与设备)

资助基金：国家高技术研究发展计划（863计划）863-2-4-4-7

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：225-228