10.3969/j.issn.1671-4628.2012.02.023
室温下金属铝膜的霍尔效应初步研究
采用真空蒸发镀膜法制备了金属铝薄膜,在室温下,用四探针法测量了样品的电阻率和霍尔系数.结果表明,制成的金属铝膜,电阻率由块体材料的10-8Ω·m增大到薄膜样品的10-5Ω·m;霍尔系数由块体材料的10-11m3/C数量级左右增大到10-4 m3/C数量级;电阻率和霍尔系数随着金属铝膜厚度的减小而逐渐增大.
真空蒸发、载流子浓度、电阻率、霍尔效应
39
O484.3(固体物理学)
2012-05-25(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
114-117