基于广义AO~*算法的测试序列问题研究

摘要：

测试序列问题的目标是用最小的期望测试费用找到最佳测试序列.提出了一种广义AO~*算法解决了电子设备的测试序列问题.对传统的AND/OR图进行扩展得到一种广义的AND/OR图,它不仅能够提高AND/OR图的表达能力而且能够实现推理操作符与问题之间的多对多关系;描述了广义AO~*算法的步骤并且分析了该算法的计算复杂度.通过实例说明广义AO~*算法不仅可有效减少计算复杂度和平均测试代价,而且生成的故障诊断策略能快速、有效的指导维修人员定位故障以减少维修代价.

关键词：人工智能、广义AND/OR图、广义AO~*算法、测试序列问题

所属期刊栏目：31

分类号：TP306(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2010-05-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：204-208