工业X射线透视成像中的散射及其校正

摘要：

本文以实验为基础研究了工业X射线散射对无损检测成像质量的影响、散射规律及其校正方法.通过研究散射系统的设计,用实验得出了射线散射随试件厚度的变化关系,修正了以往人们常用的散射模型,提出了指数幂散射模型,利用该模型对X射线散射用维纳滤波法进行了校正.实例表明,本法可以有效地抑制散射对成像质量的影响,使透视图像的空间分辨率与校正前相比提高了56%,取得了较好的校正效果.

关键词：光学、射线检测、无损检测、散射、射线数字成像

所属期刊栏目：25

分类号：TG115.28+1(金属学与热处理)

在线出版日期：2004-08-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：163-166