电子轰击型电荷耦合器件成像过程中的混频现象

摘要：

本文研究和测量了电子轰击型电荷耦合器件(EBCCD)的极限分辨力,得到了对不同频率条纹的成像规律.当采样频率大于Nyquist极限频率时发生混频现象,但仍可能有条纹出现,并由频谱分析进行了说明.通过对调制传递函数测量可以看到,EBCCD图像传感器对高于Nyquist频率的图案具有一定的传递特性,进一步说明了对高频分辨力图案成像时出现条纹的可能性.

关键词：信息处理技术、电子轰击、电荷耦合器件、分辨力、调制传递函数

所属期刊栏目：24

分类号：TN223;TN15(光电子技术、激光技术)

在线出版日期：2003-12-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：351-353