高、低温胁迫对雾培嫁接苗根系生长发育的影响
以黄瓜嫁接苗根系为研究对象,采用雾培生根法,通过对根际进行高温与低温胁迫,分别进行了单因素试验和多因素正交实验.结果表明:高、低温胁迫对黄瓜嫁接苗根系相对电导率和根系活力影响高度显著,影响强度高于栽培方式和嫁接苗品种等因素;高温胁迫下,嫁接苗根系的根长增大,根鲜重、根体积、根直径、根系数量减小,根系相对电导率增大,根系活力下降,嫁接苗根系出现明显的徒长现象;低温胁迫下,嫁接苗根系的根长、根鲜重、根体积、根直径、根数量均明显减小,根系相对电导率增大,根系活力下降,嫁接苗根系生长发育缓慢.试验表明,高、低温胁迫都严重影响嫁接苗根系的正常生长,尤其是高温胁迫影响更明显.
高温胁迫、低温胁迫、嫁接苗根系、根系活力、相对电导率
S604+.2(一般性问题)
国家高技术研究发展计划863计划资助项目2012AA10A506-4;2013AA103005-04.
2016-06-13(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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