低温胁迫对砧木南瓜F1代及其亲本幼苗的影响

摘要：

以印度南瓜(母本,FP)、中国南瓜(父本,MP)及其种间杂交F1(印度南瓜×中国南瓜)代幼苗为试材,采用5℃低温处理幼苗2d,分别测定低温胁迫前后幼苗根系活力、电导率和丙二醛(MDA)含量以及保护酶活性的变化.结果表明:低温胁迫后F1代的根系活力最强,相对电导率最低,MDA含量最低,超氧化物歧化酶(SOD)、过氧化物酶(POD)和过氧化氢酶(CAT)活性最高,其次是母本印度南瓜,父本中国南瓜最低.这些生理指标的变化与砧木南瓜的耐寒性密切相关,即F1代的耐寒性最强,印度南瓜次之,中国南瓜最弱.

关键词：中国南瓜、印度南瓜、杂交F1代、低温处理、耐寒性

分类号：S642.1

资助基金：国家"十二五"科技支撑计划资助项目2011BAD12B03-05;青岛农业大学重点课题资助项目610601

在线出版日期：2013-04-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：20-22