一种基于ASM-HEMT模型改进陷阱效应的GaN HEMT器件非线性模型

摘要：

GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)器件受制于陷阱效应,建立准确的非线性模型非常困难.介绍了表面势物理基高电子迁移率高级电路模型(ASM-HEMT),分析了标准ASM-HEMT模型在表征陷阱效应方面的不足,进而建立了新的陷阱模型电路拓扑及模型方程,新陷阱模型可以更好地表征器件陷阱俘获和释放电子的不对称性.基于0.25 μm GaN HEMT器件,进行了脉冲I-V、多偏置S参数、负载牵引仿真及测试,并对新模型进行参数提取和建模.经过对比仿真和测试结果发现,新模型的仿真结果与实测结果比标准ASM-HEMT模型更加吻合,说明新模型表征陷阱效应更加准确,提升了模型的准确性,进而提高GaN HEMT功率放大器设计仿真的准确性.

关键词：GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)、高电子迁移率高级电路模型(ASM-HEMT)、非线性模型、陷阱效应、电流崩塌效应

所属期刊栏目：47

分类号：TN302(半导体技术)

在线出版日期：2023-03-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：972-978,1026