微LED显示基板CMP过程中铜/钛/TEOS的去除速率选择比优化

摘要：

微LED显示技术因其发光点小、响应速度快等优点而被誉为"终极显示技术",而芯片加工技术限制了其规模化应用.芯片加工过程中产生的碟形缺陷会严重影响芯片的发光特性和可靠性.采用化学机械抛光(CMP)方法对钛(Ti)作为阻挡层的微显示器基板进行有效的表面平坦化处理,发现引入柠檬酸钾(KCit)可以有效降低碟形缺陷深度.结果表明,在双氧水-柠檬酸钾体系下,可以将铜/钛/正硅酸乙酯(TEOS)去除速率选择比控制在1:1.9:1.7,最终修正后的碟型缺陷深度均在20 nm以下,满足工业应用要求.

关键词：微LED、铜(Cu)、钛(Ti)、正硅酸乙酯(TEOS)、柠檬酸钾(KCit)、化学机械抛光(CMP)

所属期刊栏目：47

分类号：TN305.2(半导体技术)

资助基金：国家科技重大专项;河北省自然科学基金面上项目

在线出版日期：2022-08-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：531-538