一种提高分段式DAC线性度测试效率的方法

摘要：

随着数模转化器(DAC)位数的增加,模拟量的步进值越来越小,数字万用表的精度和负载电阻的热效应成为影响DAC线性度测量的重要因素.基于分段式电流舵DAC的结构,结合其二进制和温度计译码电路的特点,从理论上提出了一种使用简码测试线性度的方法,并以一款分段式10 bit DAC为例,分别采用简码和传统的全码方法验证了它的微分非线性DNL与积分非线性INL.结果表明,简码测试和全码测试得到的DNL与INL曲线趋势一致,但简码测试效率高,仅占全码测试周期的1/8;另外简码测试减小了负载电阻温漂引入的误差,因此相比全码测试线性度的性能提高了0.1～0.2 LSB.

关键词：数模转化器(DAC)、微分非线性、积分非线性、简码测试、全码测试

所属期刊栏目：40

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家自然科学基金61076030

在线出版日期：2015-08-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：554-558