10.13290/j.cnki.bdtjs.2015.02.002
宽带LC压控振荡器的相位噪声优化设计
采用0.35 μm BiCMOS工艺,设计了一款基于开关电容阵列结构的宽带LC压控振荡器.同时分析了电路中关键参数对相位噪声的影响.基于对VCO中LC谐振回路品质因数的分析,优化了谐振回路,提高了谐振回路的品质因数以降低VCO的相位噪声.采用噪声滤波技术,减小了电流源晶体管噪声对压控振荡器相位噪声的影响.测试结果表明,优化后的压控振荡器能够覆盖1.96~2.70 GHz的带宽,频偏为100 kHz和1 MHz的相位噪声分别为-105和-128 dBc/Hz,满足了集成锁相环对压控振荡器的指标要求.
LC压控振荡器(VCO)、相位噪声优化、品质因数、噪声滤波、宽带
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TN752(基本电子电路)
2015-03-25(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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