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10.3969/j.issn.1003-353x.2012.05.011

晶体硅片上激光打孔的研究

引用
背面接触太阳电池越来越多地被人们关注,这种电池增加了使用激光器在硅片上打孔工艺.选用了半导体激光器作为光源在晶体硅片上进行打孔实验.通过调节激光器的功率、离焦量、脉冲重复频率等参数并分析其对打孔的影响.在激光打孔后,对硅片使用显微镜测试来分析打孔大小、形貌和损伤区,并优化打孔的参数.通过实验证实孔的入孔直径和出孔直径都随激光能量的增大而增大.随着离焦量的增大,出孔直径先增大后减小,且出孔直径越大时孔附近的破坏区域越小.脉冲重复频率的变化由于影响激光能量而影响孔径.另外,脉冲重复频率过大时,激光能量仍然比较大,但却打不穿硅片.

激光打孔、脉冲能量、离焦量、重复频率、太阳电池

37

TN304(半导体技术)

2012-07-17(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共7页

375-380,389

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半导体技术

1003-353X

13-1109/TN

37

2012,37(5)

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