高精度ADC有效精度的测试方法

摘要：

采用IEEE标准提供的方法对ADC测试,要求信号源的精度比被测ADC的精度高.对于高精度ADC,需要更高精度的信号源.如果没有这种更高精度的信号源,就不能准确测出ADC的精度.给出了一种不需要信号源、只利用电路本身的热噪声作为被测ADC的输入信号,对ADC的输出进行FFT分析,求出噪声,求出有效精度的方法.这种测试方法速度快且准确,而且不需要高精度信号源.另外,通过一个实例对这种测试方法进行了验证.

关键词：ADC测试方法、高精度、噪声

所属期刊栏目：35

分类号：TN431.2(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2010-05-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：269-271,276