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10.3969/j.issn.1003-353x.2009.12.016

化学染色法测量B,Al及P扩散结深

引用
采取化学染色法对B,Al和P杂质扩散形成的结深进行检测,通过实验不同浓度染色液的腐蚀特性,选择易于控制和重复性好的染色腐蚀液.同时采用扩展电阻法对同一个样品的结深进行测试,以扩展电阻法所得结果为标准,与染色法的测量结果进行对比,根据测试结果与理论分析,对染色法的测试结果进行修正,确定P扩散结深的测试系数.

扩散结深、染色液、扩展电阻探针法

34

TN304.07(半导体技术)

2010-02-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

1213-1215

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半导体技术

1003-353X

13-1109/TN

34

2009,34(12)

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