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10.3969/j.issn.1003-353x.2009.11.005

平整度对细Al丝超声引线键合强度的影响

引用
为避免双键合点破坏性拉力实验不易准确的缺陷和剪切力测试不能评价键合点整体特性的缺陷,采用了破坏性单键合点的测试方法.在尽量排除其他干扰因素的情况下,通过实验比较了10种不同平整度条件下细Al丝超声引线键合的结果.结果表明,平整度对超声引线键合的强度有影响,随着平整度的提高,键合强度和稳定度也随之提高.实际测试键合拉力时发现,键合良好断裂点均在跟键(heel)处,采取补强的方式使1.25 mil(3.125×10-3 cm)细Al丝超声键合后的键合强度均值可以达到0.156 8 N.分析了以上实验现象产生的原因,探讨了键合强度形成的机理.

超声引线键合、平整度、细铝丝、键合强度

34

TN305.96(半导体技术)

陕西科技大学研究生创新项目H20080004

2010-01-15(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

1070-1073

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半导体技术

1003-353X

13-1109/TN

34

2009,34(11)

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