10.3969/j.issn.1003-353X.2009.02.016
掺杂VO2薄膜的制备及其光电性质
以石英片为基底,采用直流/射频磁控共溅射法制备了掺A、掺Ti的V02薄膜.对所制样品进行了电阻-温度关系、原子力显微镜、透射光谱等光电性能测试.结果分析表明,Al元素可以提高薄膜相变温度及Ti元素可以有效提高相变前后电阻率变化幅度,并且用半导体能带理论对VO2薄膜光电性质改变的原因及掺杂对其造成的影响予以解释,提出了影响相变滞豫的原因及改善方法.最后对磁控共溅射沉积方法制备掺杂薄膜的工艺方法提出了改进.
二氧化钒薄膜、磁控共溅射、掺杂、光电特性、能带
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TN304(半导体技术)
2009-04-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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