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10.3969/j.issn.1003-353X.2009.02.004

NH3掺杂ZnO薄膜的生长及特性

引用
采用金属有机物化学气相沉积(MOCVD)方法,以NH3作为N元素的掺杂源,在蓝宝石衬底上生长了掺N的ZnO薄膜.利用X射线衍射、X射线光电子能谱、原子力显微镜、霍尔测量及先致荧光光谱等测试技术分析了薄膜的结晶性质、表面形貌、光电性质及掺杂元素N的价键特性.结果表明,NH3 的掺杂会影响ZnO薄膜的结晶特性,薄膜虽然仍是(002) 面择优取向生长,但同时也出现了ZnO的(100)及(101)面生长.在薄膜生长时N元素掺入到ZnO薄膜当中,并形成N-Zn、N-H、N-C键.C、H杂质的存在,使掺N ZnO薄膜表现为高阻,同时也影响了薄膜的光致发光特性.

氧化锌薄膜、氨气掺杂、金属有机物化学气相沉积、特性

34

TN304.2;TN305.3(半导体技术)

国家自然科学基金;中国博士后科学基金

2009-04-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

119-122

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半导体技术

1003-353X

13-1109/TN

34

2009,34(2)

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