TFT-LCD驱动控制芯片内置SRAM的自测试设计

摘要：

针对单片集成TFT-LCD驱动控制芯片内置SRAM的特点,提出了一种将内建自测试与机台测试相结合的SRAM测试方案.测试向量由机台提供,测试过程中启动内部自测试电路.在SRAM的读出寄存器和写入寄存器之间建立一条通路,测试向量通过这条通路在SRAM单元之间传递,形成了一个长的移位链,读出数据送给比较器检测.与传统自测试结构相比,该方案面积开销小,灵活性高.

关键词：薄膜晶体管液晶显示器、内置SRAM、内建自测试、移位链

所属期刊栏目：32

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家高技术研究发展计划（863计划）;陕西省重大项目

在线出版日期：2007-11-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：891-893,903