10.3969/j.issn.1003-353X.2007.10.017
TFT-LCD驱动控制芯片内置SRAM的自测试设计
针对单片集成TFT-LCD驱动控制芯片内置SRAM的特点,提出了一种将内建自测试与机台测试相结合的SRAM测试方案.测试向量由机台提供,测试过程中启动内部自测试电路.在SRAM的读出寄存器和写入寄存器之间建立一条通路,测试向量通过这条通路在SRAM单元之间传递,形成了一个长的移位链,读出数据送给比较器检测.与传统自测试结构相比,该方案面积开销小,灵活性高.
薄膜晶体管液晶显示器、内置SRAM、内建自测试、移位链
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TN407(微电子学、集成电路(IC))
国家高技术研究发展计划(863计划);陕西省重大项目
2007-11-26(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
891-893,903