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10.3969/j.issn.1003-353X.2007.10.006

氮化硅湿法蚀刻中热磷酸的蚀刻率

引用
在半导体湿法蚀刻中,热磷酸广泛地用于对氮化硅的去除工艺,实践中发现高温下磷酸对氮化硅蚀刻率很难控制.从热磷酸在氮化硅湿法蚀刻中的蚀刻原理出发,分析了影响蚀刻率的各个因素,并通过实验分析了各个因素对蚀刻率的具体影响.根据目前广泛应用于生产中的技术,介绍了如何对相关因素进行控制调节,为得到稳定的热磷酸蚀刻率提供了方向.

热磷酸、湿法蚀刻、蚀刻率、氮化硅

32

TN305.7(半导体技术)

国家自然科学基金;上海市浦江人才计划

2007-11-26(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

847-850

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半导体技术

1003-353X

13-1109/TN

32

2007,32(10)

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