10.3969/j.issn.1003-353X.2007.03.019
半导体器件的贮存寿命
从失效机理出发,探讨了半导体器件的贮存寿命,提供了三种美国军用半导体器件长期贮存的实例.介绍了俄罗斯的规范,建议对超期复验中的有效贮存期作必要的修订.
半导体器件、失效机理、贮存寿命、超期复验
32
TN3(半导体技术)
2007-04-18(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
252-254
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10.3969/j.issn.1003-353X.2007.03.019
半导体器件、失效机理、贮存寿命、超期复验
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TN3(半导体技术)
2007-04-18(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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