基于March C-算法的SRAM BIST电路的设计

摘要：

针对某SOC中嵌入的8K SRAM模块,讨论了基于March C-算法的BIST电路的设计.根据SRAM的故障模型和测试算法的故障覆盖率,研究了测试算法的选择、数据背景的产生,并完成了基于March C-算法的BIST电路的设计.实验证明,该算法的BIST实现能大幅提高故障覆盖率.

关键词：静态存储器、March C-算法、内建自测试

所属期刊栏目：32

分类号：TP3(计算技术、计算机技术)

资助基金：电子元器件可靠性物理;技术国防科技重点实验室资助项目

在线出版日期：2007-04-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：245-247