数字下变频器HSP50216原理及测试模式的使用

摘要：

通过对数字下变频器HSP50216内部结构、工作原理及性能特点的介绍,给出了其在下变频处理中的应用.另外,该芯片配有一个测试模式,它通常用来进行芯片检测.给出了利用测试模式来使HSP50216完成数字化激励器中基带处理功能的另外一种应用.实践证明这种方法是可行的,提高了对测试模式使用的灵活性,并以此扩展了HSP50216的功能,满足更多情况的需要.

关键词：测试模式、数字下变频器、软件无线电

所属期刊栏目：32

分类号：TN773(基本电子电路)

资助基金：国家部委科研项目

在线出版日期：2007-04-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：170-173