第四届科利登系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安举办;同期现场展示Sapphire D-10

摘要：

@@ 2006年6月2日,第四届科利登系统技术研讨会在西安索菲特会展中心召开,本次研讨会着重讨论了有关ATE测试的各种主题,譬如IC测试的趋势、零-中频收发器以及RFID芯片新的测试方法、高速总线基础等.

机标关键词：技术研讨、中国西安、在中国、第四届、sapphire

所属期刊栏目：31

分类号：TS262.31;R331.143;TD5

在线出版日期：2006-08-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共1页

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