10.3969/j.issn.1003-353X.2006.07.010
IC测试原理-芯片测试原理
@@ 1引言
芯片测试原理讨论在芯片开发和生产过程中芯片测试的基本原理,一共分为四章,下面将要介绍的是第二章.我们在第一章介绍了芯片测试的基本原理;第二章讨论了怎么把这些基本原理应用到存储器和逻辑芯片的测试上;本文主要介绍混合信号芯片的测试;接下来的第四章将会介绍射频/无线芯片的测试.
测试原理、芯片测试
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TN3(半导体技术)
2006-08-07(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
512-514,519