多测位并行测试的探索与实践

摘要：

多测位并行测试技术是半导体测试业节约成本、提高效率的新途径,应用好并行测试技术可以大幅度降低测试成本.本文讲述了用台湾久元的SCUD-512型测试机和东京精密的UF200探针台实现双测位并行测试的实践过程,另外还介绍了并行测试技术在晶圆测试过程中的若干技术问题和解决方案.

关键词：多测位、并行测试、集成电路

所属期刊栏目：29

分类号：TN304.7(半导体技术)

在线出版日期：2004-07-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：45-46,51