SoC测试结构复用技术研究

摘要：

在设计基于IP模块的SoC同时,必须引入可测性设计以解决SoC的测试问题.为了简化SoC中的可测性设计的工作,本文设计了一种新型测试结构复用技术,通过分析SoC内部的各种测试应用情况,实现了一个兼容IEEE1149.1标准的通用测试访问逻辑IP.在运动视觉SoC中的应用以及仿真结果验证了这种测试复用结构的有效性,并有助于提高SoC的测试覆盖率.

关键词：可测性设计、系统芯片、知识产权、测试复用结构

所属期刊栏目：29

分类号：TN43;TN407(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家自然科学基金;高等学校博士学科点专项科研基金

在线出版日期：2004-04-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：48-50,53