数字VLSI电路测试技术-BIST方案

摘要：

分析了数字VLSI电路的传统测试手段及其存在问题,通过对比的方法,讨论了内建自测试(BIST)技术及其优点,简介了多芯片组件(M CM)内建自测试的目标、设计和测试方案.

关键词：集成电路、内建自测试、多芯片组件

所属期刊栏目：28

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：江苏省高等学校自然科学研究项目02KJB510005

在线出版日期：2003-12-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：29-32