一种面向TTL集成电路的小型检测仪设计

摘要：

本文基于MCS51单片机，构建了一种面向TTL集成短路芯片的小型检测仪。该检测仪能快速、准确地对TTL系列数字逻辑芯片的逻辑功能进行检测，从而判断芯片的好坏和型号。该检测仪的使用，能减少了测试时间，提高了检测效率，降低了劳动强度。该检测仪具有良好的移植和扩展性。

关键词：集成电路、故障检测、MCS51单片机

分类号：TN431.2;TH89(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2015-09-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：35-36