ESD防护仿真技术研究

摘要：

静电放电(ESD)一直是电子产品的重大威胁,严重的还会造成芯片失效.在设计阶段需对芯片受ESD冲击后的耦合情况进行预测评估,并为芯片设计有效的ESD防护,实现系统级高效ESD设计(SEED)成为发展趋势.文章研究了瞬态抑制二极管(TVS)对静电的响应情况,并将TVS分为回滞型与非回滞型,分别建立了SPICE模型.提出了一种新的ESD发生器电路模型和全波模型,所得电流波形与实测数据吻合较好.两种模型的电流特征值与IEC 61000-4-2:2008要求的偏差较小.为复现完整的系统级ESD测试环境提供了支持,也为探索芯片在系统级ESD测试下的行为模式打下基础.

关键词：静电放电、芯片失效、系统级ESD设计、瞬态抑制二极管、静电枪

分类号：TP391.9;U469.72;TN972

资助基金：国家科技创新基金;北京东方计量测试研究所刘尚合院士专家工作站静电研究基金课题

在线出版日期：2024-02-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：38-45