环境试验中的EMC问题

摘要：

某电子设备在环境试验低温测试过程中,内部电路运行失常,寄存器读写失败.通过大量对比测试、频率扫描、电路原理图和PCB审查和理论分析,最终发现低温导致电源模块开关噪声频率发生偏移,和芯片内部时钟芯片频率重合,且噪声从空间和线路传导上干扰了芯片内部时钟,造成芯片工作异常,无法进行正常的寄存器读写.通过对噪声隔离和滤波临时措施、以及更换电源模块的整改措施,有效解决了干扰问题,为类似问题的处理提供参考借鉴.

关键词：低温、开关噪声、干扰、隔离、滤波

分类号：TP332.11;D997.4;TN929.5

在线出版日期：2023-10-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：69-72