导电硅胶屏蔽效能长期可靠性试验研究

摘要：

为了缩短试验时间、量化不同环境条件下导电硅胶屏蔽效能随时间的变化趋势,采用加速老化试验方法,对导电硅胶进行高温高湿强化环境试验,获得导电硅胶屏蔽效能下降趋势,进而预测在不同自然环境中更长时间轴上导电硅胶的屏蔽效能.结果表明,1 000小时的加速试验等效约15.53年,导电硅胶的屏蔽效能下降约20 dB.

关键词：导电硅胶、屏蔽效能、长期可靠性、加速老化试验

分类号：TN406;TN306;TN606

在线出版日期：2017-10-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：73-75