2010IEEE EMC学术研讨会——电磁信息泄漏

摘要：

@@ Information Leakage from Cryptographic Hardware via Common-mode Current提出了由共模电流引起电磁辐射的泄漏模型.通过EMC手段对FPGA电路板硬件加密模型的测量,验证了携带保密信息的共模电流会造成信息泄漏.

机标关键词：EMC、学术研讨、电磁信息泄漏、IEEE、共模电流、Information、泄漏模型、加密模型、电磁辐射、保密信息、电路板、硬件、验证、测量、FPGA、via

分类号：D92;TN9

在线出版日期：2012-03-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：80-83