2009 IEEE EMC学术研讨会——获奖文章(一)

摘要：

@@ Using a Single-ended TRL Calibration Pattern to De-embed Coupled Transmission Lines摘要:针对单端传输线的去嵌入已经被广泛应用,但还没有针对被耦合传输线的去嵌入技术.文章提出了针对被耦合传输线的去嵌入技术,这种去嵌入技术采用单端TRL校准图,而其结果可以通过矢量网络分析仪(VNA)的误差校正数据直接得到.

机标关键词：EMC、IEEE、学术研讨、文章、去嵌入、嵌入技术、耦合传输线、Transmission Lines、矢量网络分析仪、Calibration、误差校正、技术采用、单端、TRL校准、摘要、数据、结果

分类号：G35;G4

在线出版日期：2009-12-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：10-14,79