集成电路的电磁兼容测试
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10.3969/j.issn.1005-9776.2008.03.006

集成电路的电磁兼容测试

引用
@@ 近年来,集成电路的频率越来越高,集成的晶体管数目越来越多,集成电路的电源电压越来越低,加工芯片的特征尺寸进一步减小,越来越多的功能,甚至是一个完整的系统都能够被集成到单个芯片之中,这些发展使芯片级电磁兼容显得尤为重要.现在,集成电路生产商正努力改进他们的产品以满足电磁兼容规范,降低电磁发射和增强抗干扰能力.

集成电路、电磁兼容、测试、芯片级、强抗干扰能力、低电磁发射、特征尺寸、电源电压、生产商、晶体管、系统、频率、加工、规范、功能、改进、产品

TP3;O53

2008-11-06(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

38-41

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安全与电磁兼容

1005-9776

11-3452/TM

2008,(3)

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